Point Defects in Silicon and Silicon-Carbide

Detta är en avhandling från Kista : Mikroelektronik och informationsteknik

Författare: Paolo Pellegrino; Kth.; [2001]

Nyckelord: silicon; silicon carbide; defects; dlts;

Sammanfattning:

  KLICKA HÄR FÖR ATT SE AVHANDLINGEN I FULLTEXT. (PDF-format)