Avancerad sökning

Hittade 1 avhandling som matchar ovanstående sökkriterier.

1. 1. Scanning capacitance microscopy for semiconductor characterisation

   Författare :Olle Bowallius; KTH; []
   Nyckelord :SCM; SSRM; InP; Si; Buried heterostructure laser; Doping; Regrowth; Capacitance; P-n junction;

   Sammanfattning : .... LÄS MER