Characterization and modeling of electrically active point defects in silicon/silcon dioxide structures

Detta är en avhandling från Chalmers University of Technology

Författare: Mats O. Andersson; Chalmers Tekniska Högskola.; Chalmers University Of Technology.; [1991]

Nyckelord: TEKNIK OCH TEKNOLOGIER; ENGINEERING AND TECHNOLOGY; electro-optical techniques; MOS capacitors;

Sammanfattning:

  Denna avhandling är EVENTUELLT nedladdningsbar som PDF. Kolla denna länk för att se om den går att ladda ner.