Electronic speckle pattern interferometry applied to shape and deformation measurement

Detta är en avhandling från Institutionen för materialens processteknologi

Författare: Wei An; Kth.; [2000]

Nyckelord: ;

Sammanfattning:

  Denna avhandling är EVENTUELLT nedladdningsbar som PDF. Kolla denna länk för att se om den går att ladda ner.