Surface Characterisation Using ToF-SIMS, AES and XPS of Silane Films and Organic Coatings Deposited on Metal Substrates

Detta är en avhandling från Uppsala : Acta Universitatis Upsaliensis

Författare: Ulf Bexell; Högskolan Dalarna.; [2003]

Nyckelord: ;

Sammanfattning:

Denna avhandling är EVENTUELLT nedladdningsbar som PDF. Kolla denna länk för att se om den går att ladda ner.