Quantitative applications of secondary ion mass spectrometry : solid-state diffusion and mass fractionation studies

Detta är en avhandling från Chalmers University of Technology

Författare: Ulf Södervall; Chalmers Tekniska Högskola.; Chalmers University Of Technology.; [1991]

Nyckelord: NATURVETENSKAP; NATURAL SCIENCES; Secondary ion mass spactromy SIMS ; ionazion mechanisms; mass fractionation; diffusion; isotope effects; activation parameters; elemental semiconductors; high pressure; isotopic ratios;

Sammanfattning:

  Denna avhandling är EVENTUELLT nedladdningsbar som PDF. Kolla denna länk för att se om den går att ladda ner.