Atom-probe microanalysis of the AuGe/GaAs interface

Detta är en avhandling från Chalmers University of Technology

Författare: Anders Kvist; Chalmers Tekniska Högskola.; Chalmers University Of Technology.; [1993]

Nyckelord: NATURVETENSKAP; NATURAL SCIENCES; ohmic contact; microstructure; atom-probe field-ion microscopy; AuGe; GaAs; interface; diffusion;

Sammanfattning:

Denna avhandling är EVENTUELLT nedladdningsbar som PDF. Kolla denna länk för att se om den går att ladda ner.