Sökning: "Electrical characterization"

Visar resultat 1 - 5 av 292 avhandlingar innehållade orden Electrical characterization.

  1. 1. Ultrathin Oxides in Metal-Oxide-Silicon Structures: Defects and Characterization

    Detta är en avhandling från Chalmers University of Technology

    Författare :Lars-Åke Ragnarsson; Chalmers tekniska högskola.; Chalmers tekniska högskola.; Chalmers University of Technology.; [1999]
    Nyckelord :NATURVETENSKAP; NATURAL SCIENCES; TEKNIK OCH TEKNOLOGIER; ENGINEERING AND TECHNOLOGY; Fysik; Physics; Elektroteknik; elektronik och fotonik; Electrical engineering; electronics and photonics; MOS; ultrathin; PMA; interface state densities; Pb; RPECVD; aluminum oxide; silicon;

    Sammanfattning : .... LÄS MER

  2. 2. Polarization-Mode Disperion in Optical Fibers: Characterization, Transmission Impairments, and Compensation

    Detta är en avhandling från Chalmers University of Technology

    Författare :Henrik Sunnerud; Chalmers tekniska högskola.; Chalmers tekniska högskola.; Chalmers University of Technology.; [2001]
    Nyckelord :TEKNIK OCH TEKNOLOGIER; ENGINEERING AND TECHNOLOGY; Elektroteknik; elektronik och fotonik; Electrical engineering; electronics and photonics; optical fibers; polarization mode dispersion PMD ; ultra high bit rates; measurement of distributed PMD; digital signal transmission; PMD compensation;

    Sammanfattning : .... LÄS MER

  3. 3. High resolution electrical characterization of III-V materials and devices

    Detta är en avhandling från Kista : Mikroelektronik och informationsteknik

    Författare :Olivier Douheret; KTH.; [2004]
    Nyckelord :TEKNIK OCH TEKNOLOGIER; ENGINEERING AND TECHNOLOGY; Electrical engineering; condensed matter; electrics; electrical; materials science; Elektroteknik; elektronik och fotonik; TECHNOLOGY Electrical engineering; electronics and photonics; TEKNIKVETENSKAP Elektroteknik; elektronik och fotonik;

    Sammanfattning : The continuing shrinkage of semiconductor devices towards nanoscale features and increased functionality has prompted a strong need for high-resolution characterization tools capable of mapping the electrical properties with nanoscale lateral resolution. In this regard, scanning capacitance microscopy (SCM) scanning spreading resistance microscopy (SSRM) and Kelvin probe force microscopy (KPFM) have emerged as powerful techniques. LÄS MER

  4. 4. Aging and Characterization of Semiconducting Glazes

    Detta är en avhandling från Chalmers University of Technology

    Författare :Heike Ullrich; Chalmers tekniska högskola.; Chalmers tekniska högskola.; Chalmers University of Technology.; [2004]
    Nyckelord :TEKNIK OCH TEKNOLOGIER; ENGINEERING AND TECHNOLOGY; Elektroteknik; elektronik och fotonik; Electrical engineering; electronics and photonics;

    Sammanfattning : .... LÄS MER

  5. 5. Microwave and millimeter wave CMOS Characterization, modeling, and design

    Detta är en avhandling från Chalmers University of Technology

    Författare :Mattias Ferndahl; Chalmers tekniska högskola.; Chalmers University of Technology.; Chalmers tekniska högskola.; [2008]
    Nyckelord :TEKNIK OCH TEKNOLOGIER; ENGINEERING AND TECHNOLOGY; TEKNIK OCH TEKNOLOGIER; ENGINEERING AND TECHNOLOGY; Elektronik; Electronics; Elektronisk mät- och apparatteknik; Electronic measurement and instrumentation; Elektroteknik; Electrical engineering; microwave; millimeter wave; CMOS; power amplifier; frequency doubler; characterization; large-signal; modeling; load-pull; LSNA; balun; silicon;

    Sammanfattning : .... LÄS MER